同步辐射吸收谱,也称X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS),一般用于反应样品中单个元素的价态情况、单个原子的配位环境、单个吸收原子的电子结构(轨道跃迁、杂化),是一种微观的、结构性判断的测试。
常规广角: 5--90°,小角:0.5--10°;常规测试速率:10°/min、5°/min、2°/min;小角测试速率:1°/min, 0.5°/min,更多测试要求请咨询客户经理。
靶材:钼靶、铜靶、旋转靶;测试温度:室温和低温,更多测试要求请咨询客户经理。
紫外光电子能谱(UPS)是以紫外线为激发光源的光电子能谱。其原理是基于爱因斯坦的光电定律。用惰性气体放电产生的紫外光(最常用的低能光子源为氦Ⅰ和氦Ⅱ)照射试样,使试样中原子或分子的价电子被电离而射出,成为光电子。用静电或磁场偏转型能量分析器检测其能量分布,得到以电子动能(或结合能)为横坐标,电子计数率为纵坐标的光电子能谱图。
掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让X射线略过样品表面的技术,能够通过调节入射角度从而改变探测深度,对表面的灵感度可高达致几nm,这种技术能够更真实全面地表征出薄膜(特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。
可测元素范围:11Na-92U
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